Gericke, A.; Erbez, J.; Chen, X.; Khan, A.; Chen, Z.; Lee, Y.; Hong, S. ; Heinlein, J.; Schroeder, E.; Bac, S.; Novak, J.; Blum, M.; Nemsak, S.; Christopher, P.; Cargnello, M.; Hoffman, A.; Bare, S.; Tenney, S.; Yang, J. C.; Alexandrova, A. N.; Head, A. Tracking of Rhodium Particle Size and Oxidation State Dynamics on Rutile TiO2 by Ambient-Pressure XPS. 2026, submitted.

Gericke, A.; Erbez, J.; Chen, X.; Khan, A.; Chen, Z.; Lee, Y.; Hong, S. ; Heinlein, J.; Schroeder, E.; Bac, S.; Novak, J.; Blum, M.; Nemsak, S.; Christopher, P.; Cargnello, M.; Hoffman, A.; Bare, S.; Tenney, S.; Yang, J. C.; Alexandrova, A. N.; Head, A. Tracking of Rhodium Particle Size and Oxidation State Dynamics on Rutile TiO2 by Ambient-Pressure XPS. 2026, submitted.

Scroll to Top